表面污染測量儀用探測器在可能受到污染的表面上方進行移動測量，以確定受污染的區(qū)域或點位，在發(fā)現(xiàn)異常點位時再進行定位測量。

 

　　在環(huán)境輻射的測量中，對室內(nèi)、外場地及物體的表面污染進行直接或間接測量，對于及時發(fā)現(xiàn)是否有污染以便采取決策行動是十分重要的。表面污染測量的基本要求是及時發(fā)現(xiàn)是否有污染，確定污染點位和范圍，并給出污染區(qū)域內(nèi)污染核素的量值。

 

　　表面污染測量儀有便攜式的和車載式的，更先進的表面污染監(jiān)測管理系統(tǒng)也已經(jīng)開發(fā)，用的是位置靈敏探測器，它不僅可以準確給出污染點位，同時還可在顯示屏幕上三維顯示污染圖像和量值。表面污染監(jiān)測的對象主要是發(fā)射α、β或γ的核素，測量方式有α污染測量，β污染測量，α／β污染測量，α／γ污染測量。

 

　　表面污染可以用直接測量、掃描測量和間接測量確定。直接測量是用監(jiān)測儀器進行，可以測量固定污染，也可測量松散污染；測量時，以適當距離在待測對象的上方放置探測器，按預(yù)定時間間隔測量并記錄讀數(shù)。

 

　　間接測量是用擦拭方法確定松散污染的水平。對一些不能活動的固體或者貯存有液體的表面，或者有高本底影響，或者測量儀器不能靠近表面，直接測量是困難的，甚至是不可能的。此時只能采用間接測量方法。

 

　　為了準確測量總的表面活度，現(xiàn)場監(jiān)測儀器要經(jīng)過適當刻度。刻度源應(yīng)選擇其發(fā)射的α或β輻射與現(xiàn)場污染物預(yù)期的輻射能量相似。有代表性的刻度源要用現(xiàn)場被評估的放射性材料制備。